開爾文探針

開爾文探針的特點

在半導體和導電樣品中全新技術的開爾文探針

環境空氣條件下測試（具有不同溫度、濕度真空監測）

具有非常高的精度和準確度

信號非常穩定

可實現遠程技術服務支持

應用

▪   CPD測量（頂尖參考標準的功函數）             （通過黃金網紋的可見光）

▪   表面光電壓測量（兼容同品牌的照射器與單色器模塊）

▪   腐蝕測量

▪   吸附/解吸和表面電壓的研究    

▪   活性催化的研究

開爾文探針技術規格：

電壓范圍：-5V～5V

數據采集：16-bit ADC module

測試精度：0.1mev                               （靜電屏蔽環境干擾的保護）

樣品架：X-Y stage

Z 端：  5um resolution laser positioning

金網：  (Φ 2 mm mesh) – light „see through”

軟件部分：

（銳鈦礦在黑暗中的腐蝕性）                           CPD值的鑒定

                                                   黃金網紋和樣品在不同距離

                                                    非常明顯的5 pA的寄生電流

                                                  光照下的銳鈦礦在黑暗中的腐蝕性